Операция выполнена!
Закрыть
Специалисты Национального исследовательского ядерного университета «МИФИ» разработали портативное устройство для обнаружения микротрещин и других дефектов в металлических поверхностях. На метод диагностики уже получен международный патент.
Читайте также
СТАТЬ АВТОРОМ
НОВОСТИ

ПИШИТЕ

Техническая поддержка проекта ВсеТут

info@vsetut.pro