Операция выполнена!
Закрыть
Ученые из Национальной лаборатории Argonne разработали метод анализа материалов на основе рентгеновской спектроскопии (XPCS) и искусственного интеллекта (ИИ). Этот метод позволяет создавать уникальные «отпечатки пальцев» материалов, которые затем анализируются нейросетью для получения новой информации о структуре и поведении материалов.
Читайте также
НОВОСТИ

ПИШИТЕ

Техническая поддержка проекта ВсеТут

info@vsetut.pro