Операция выполнена!
Закрыть
В Институте физики полупроводников СО РАН разработали способ, который позволяет с высокой точностью исследовать материалы, применяемые в нанотехнологиях. Новый метод объединяет оптический спектральный анализ с атомно-силовой микроскопией и дает возможность изучать не только рельеф, но и химический состав вещества на уровне нескольких нанометров.
Читайте также
СТАТЬ АВТОРОМ
НОВОСТИ

ПИШИТЕ

Техническая поддержка проекта ВсеТут

info@vsetut.pro